テクノロジーとソリューション

機能/信頼性テスト

機能テスト

機能テストを実施することで、ATP製品はATPと産業/OEM顧客同意の製品仕様に確実に答え、また多様なホスト環境における各製品の互換性も保証しています。次に挙げるのが、ATP機能テストです。

性能テスト :性能テストでは、製品仕様と製品の実際の性能が照合されます。 ATPはHDBench、ATTO Disk BenchmarkおよびCrystalDiskMarkなど、業界で認知されているベンチマークソフトウェアを使用し、入出力性能、読み出し・書き込み速度検証、冗長を測定しています。
電気的テスト :電気的テストは消費電力、ファームウェア検証、信号品質測定、プロトコルコンプライアンス、待機電流測定など、製品の電気的仕様を測定します。さらに、DRAM製品の機能テストにはパターンテスト、容量テストおよび ECC機能テストなども含まれます。
環境/機械的テスト :機械的テストはSDA、CFA、およびJEDECなど、主要な業界標準と機械的設計の一致を検証します。さらに、製品が極端な温度環境や衝撃および振動下でも正常に機能することを確認するための、環境テストも行います。製品は極端な高温/低温度、激しい衝撃、持続的な振動など、様々な操作パラメータでテストされます。また、製品が苛酷な厳しい環境にでも保存できることを確認するために、高温/高湿ストレージテストも同時に実施されます。加えて、特別な使用環境を考慮し、塩水スプレーテストやUV露光テストなども行われます。
互換性テスト :互換性テストにより、ATP製品が様々なオペレーティングシステム (Windows OS,or Linux)、インターフェイスコマンド (DDR3、SATA、USB…など)、多種なのカードリーダー/デジタルカメラ/マザーボードと互換性があることが確認されます。製品、オペレーティングシステム、およびインターフェイスのテストマトリクスは、ユーザーの実際の使用で問題が発生する可能性を探し出すよう作られています。
認証、コンプライアンステスト :様々な国と地域で、製品がCE、FCC、RoHS、Reach、UL94、IP67、US MIL、WHQLなどの産業基準や環境基準に適合することを要求していることから、ATP製品はィの各関係機関、企業などでこれらのテストを通過しています。

信頼性テスト

信頼性テストは、実際の環境下での時間経過を考慮し間、製品機能性を測定します。電子製品の時間経過による故障率は、一般にグラフ上で「バスタブ曲線」と呼ばれる形を見せます。次のグラフには、3つのゾーン（時間帯）があります。 a) ゾーンIは、初期段階において、高い故障率が急速に低下する失事を示していますが、これは通常、製造の問題により引き起こされます。 ATPは長時間の高温の「バーンインテスト」を採用して問題の製品を取り除き、この段階における故障率を大幅に低下させます。 b) ゾーンIIは、耐用年数の段階です。この段階での失敗故障は、通常、偶発故障により引き起こされます。これは、ATPの確かな製品設計と高品質が失敗故障率を最小限に抑え、製品耐用年数を延ばすことができる段階です。 c) ゾーンIIIは「劣化期間」です。長期間の使用と厳しい使用環境が、製品の故障率を徐々に上昇させます。

性能が長期にわたって低下することを考慮し、信頼性テストの主要フィールドには以下を含めています。環境テスト (極端な高温/低温での動作テスト、高温/高湿環境でのストレージテスト、塩水スプレーやUV露光テスト、衝撃と振動テストなど) と電気的テスト (オン/オフサイクルテストや接触、非接触ESTテストを含む)。

ATP研究開発チームは最高品質の製品を提供することに全力を注ぎ、それぞれのテストはATPブランドが損なわれないよう厳密に設計されています

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