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機能テスト
機能テストを実施することで、ATP製品はATPと産業/OEM顧客同意の製品仕様に確実に答え、また多様なホス ト環境における各製品の互換性も保証しています。 次に挙げるのが、ATP機能テストです。
信頼性テスト
信頼性テストは、実際の環境下での時間経過を考慮し間、製品機能性を測定します。 電子製品の時間経過による故障率は、一般にグラフ上で「バスタブ曲 線」と呼ばれる形を見せます。 次のグラフには、3つのゾーン(時間帯)があります。 a) ゾーンIは、初期段階において、高い故障率が急速に低下する失事を示していますが、これは通常、製造の問題により引き起こされます。 ATPは長時間の高温の「バーンインテスト」を採用して問題の製品を取り除き、この段階における故障率を大幅に低下させます。 b) ゾーンIIは、耐用年数の段階です。 こ の段階での失敗故障は、通常、偶発故障により引き起こされます。 これは、ATPの確かな製品設計と高品質が失敗故障率を最小限に抑え、製 品耐用年数を延ばすことができる段階です。 c) ゾーンIIIは「劣化期間」です。 長期間の使用と厳しい使用環境が、製品の故障率を徐々に上昇させます。
性能が長期にわたって低下することを考慮し、信頼性テストの主要フィールドには以下を含めています。 環境テスト (極端 な高温/低温での動作テスト、高温/高湿環境でのストレージテスト、塩水スプレーやUV露光テスト、衝撃と振動テストな ど) と電気的テスト (オン/オフサイクルテストや接触、非接触ESTテストを含む)。
ATP研究開発チームは最高品質の製品を提供することに全力を注ぎ、それぞれのテストはATPブランドが損なわれないよう厳密に設計されています
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