【中国上海，2013年6月5日】全球DRAM及闪存储存产品领导厂商华腾国际科技股份有限公司(ATP® Electronics, Inc) 发布最新测试技术—ATP开关机循环测试系统(Power Cycling Test)，这项崭新测试系统能有效验证ATP断电保护技术(PowerProtector Technology)，目前此技术用于ATP NAND闪存系列产品包括固态硬盘(SSD)、CF卡与CFast卡，并领先业界应用在极小尺寸的嵌入式内存模块。经由持续的开关机测试系统不断测试下，内含ATP断电保护技术的产品，系统不会因为不正常断电而产生数据毁损或流失，从而保障数据安全，但没有ATP断电保护技术的产品，则无法通过此项测试。

在ATP开关机循环测试中，当传送数据写入的指令至NAND记忆区块中时，ATP可以精准找到『数据写入，并复制至记忆区块』的当下，在约为几微秒左右的瞬间来制造断电，再与检测主机进行数据比对。测试结果显示，没有ATP断电保护技术的产品，在几个电源开关循环后，数据比对时，即显示『数据丢失』。这是因为无断电保护功能的产品，在数据写入并进入复制数据的阶段中，即失去电力，故数据无法成功复制进入记忆区块中，所以当进行数据比对时，写入的数据就会与检测主机中的数据不一致，也就是数据写入『失败(Fail) 』。相反地，一个具有ATP断电保护技术的产品，即使经过上千次的断电测试，也不会导致数据错乱或数据流失，在每次的循环测试上显示数据写入『成功(Pass) 』 。持续的测试结果显著地验证了ATP断电保护技术的高可靠性和高效能。

巨量数据时代中，储存产品不可或缺的ATP断电保护技术
在巨量数据时代中，数据以前所未有的数量和速度累积中，对企业及个人用户而言，快速以及可靠的储存产品越显重要。ATP断电保护功能特别适合为工作环境严苛的产业，例如交通运输、电信、网络通讯和嵌入式系统等，打造稳定可靠的运作环境。不同于电源管理中的SuperCap技术，ATP断电保护技术不需要特定的其他客制化软体，可直接应用于硬件设计内，且只需非常精简的电路板面积，故可以用在如CF卡、CFast卡、SlimSATA、SATA 嵌入式模块、eUSB、mSATA、PATA、CFast、SSDs等小型载具，为空间有限的设备，提供最佳数据安全辅助功能。另外由于固态电容不易受环境的温湿度影响，更是应用于极端环境下的最佳解决方案。上述特性使得闪存储存模块可做有效率的电源管理，除了确保存入数据的完整性，同时提高储存效能，成功地为客户优化资产投资效益。

关于ATP (Advanced Technology Products)
ATP于1991年成立于美国加州，是全球领先的DRAM及闪存储存产品领导厂商，致力于提供高性能、高耐用性的移动储存产品与解决方案，以及最高质量的内存记忆体模块产品。ATP 采用第一线DRAM厂商提供的最高级DRAM芯片，并进行严格的In-House测试以保证产品的最优质量和最佳性能。其设计并获欧美网通大厂测试认证。所有ATP的产品均采用严格的物料清单（BOM）控制。同时，ATP的产品完全符合各国绿色环保标准。ATP产品最大优势为高性能、高可靠度，且适用于工业规格服务器/工作站等企业级应用。如需更多信息，欢迎上网查询：www.atpinc.com.tw/
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