固态硬盘(SSD)只能在有限的时间内正常工作，SSD的预期寿命取决于几个因素，例如NAND闪存类型、数据写入驱动器和从驱动器删除的次数(也称为编程/擦除周期)、工作负载和温度。随着时间的推移，SSD的性能会降低，位错误会增加，数据可靠性会降低。

ATP会进行EOL（end-of-life，寿命验证 ）测试，保证SSD在给定时间内的有效使用。目的是确保SSD在生命周期(甚至更长时间)内能继续可靠地工作并保持数据完整性。

ATP EOL验证测试流程

ATP使用Gym & Coach System

系统在驱动器级别执行一系列全面的 EOL测试。 这需要对 SSD 进行多次循环测试，以确定和验证驱动器的耐用性和可靠性。

此测试有助于根据目标 P/E 周期和数据保持时间预测继续使用 SSD 的时间以及 SSD 何时会发生故障。 这样，客户可以决定何时停止使用硬盘，从而制定最终更换的过渡计划。

以下项目在 ATP EOL 验证测试中得到验证：

• 编程/擦除（P/E）循环检查。闪存损耗的主要原因之一是执行的 P/E周期数。 在此测试期间，在 SSD 上执行 P/E 循环直到其额定寿命结束，用来检查退化和保留能力。 该测试方法验证我们的质量是否符合数据表上的 TBW 等级。 被测样品在 10%、75%、100%，甚至120% EOL（超出 SSD 额定使用寿命 ）时进行检查。

• 后期坏块检查。NAND闪存块在使用过程中可能会磨损，这会使它们不可靠或无法使用。该测试在SSD生命周期的不同阶段：10%、100%、120% EOL时检查坏块。
• ATP的磨损均衡测试过程遵循JEDEC的JESD219标准，适用于企业级应用。在P/E老化过程中，每次写之后都应该有一次读(即，W/R = 1)操作，并记录所有错误。仅在SSD寿命结束时进行读取是不可接受的。

根据JESD219所规定的企业级持久性工作负载由分布在整个SSD上的随机数据组成。下图显示了有效载荷的大小分布。

图1所示。JESD 219企业级耐用性工作负载大小分布

• 120% EOL P/E 周期后的数据保持测试。 此测试检查 SSD 是否可以在其生命周期的不同阶段（10%、100%、120% EOL）保留或保存数据。

下图显示了 ATP EOL 验证测试流程。

图 2. ATP EOL 验证测试流程

SSD EOL 验证结果

• 所有被测样品SSD均成功完成100% EOL测试。
• 从0%到超过EOL
  • 没有编程错误
  • 没有擦除错误
  • 没有不可纠正的纠错码 (UECC) 错误
  • 没有后期的坏块
• SSD 的累计TBW 表明在 SSD 驱动器级别读取的 1017 位中，UBER 小于 1 个不可纠正的读取错误
• 数据保持测试结果满足如下条件：
  • 硬盘寿命开始时的最低数据保持要求为 1 年，环境温度高达 40°C，10% PE 循环
  • 在高达 40°C 的环境中，硬盘使用寿命结束时的最低数据保持要求为 3 个月

图 3. 为 ATP 客户成功执行的 EOL 测试示例

关键点

ATP 在驱动器级别执行 EOL 测试，验证 SSD 在其额定寿命内甚至超出其额定寿命期间的耐用性和可靠性。 SSD 寿命的不同阶段（从 10%、100% 和高达 120% EOL）的 P/E 周期、后期坏块、磨损均衡和保留测试是检查的关键项目。 测试的所有 ATP SSD 均成功完成，没有出现编程/擦除错误、UECC 错误或后续坏块，并且在 1017 位读取中 UBER 小于 1 不可纠正的读取错误，证明了 ATP SSD 在其额定寿命期间对任务关键型应用的卓越可靠性，甚至超出 EOL。

ATP 的 EOL 测试只是 ATP 开发和执行的众多可靠性和耐久性测试之一，确保严格遵守最高质量标准。 ATP 致力于提供高性能和高耐用性的 NAND 闪存产品，以确保总体拥有成本 (TCO) 下的最佳价值。

更多信息，请访问ATP网站或联系ATP代表/经销商。