可靠性验证试验（RDT）是对ATP固态驱动器（SSD）进行的一项长期严格测试，旨在证明每个SSD符合最严格的质量要求。所有测试参数旨在验证驱动器的平均无故障时间（MTBF）额定值。ATP Electronics不提供基于MIL-HDBK-217F、Telcordia SR-332和其他可靠性预测系统的MTBF模拟结果，而是进行实际驱动级测试，以验证额定MTBF值。

MTBF是一种维修指标，用于测量设备故障之间的预期平均时间（以小时为单位）。它是确定驱动器可用性和可靠性的重要指标，在为计划外维修做准备时非常有用。

ATP的RDT根据以下JEDEC标准执行：

• JESD218：固态驱动器（SSD）要求和耐久性试验方法。本标准规定了各等级SSD的使用条件和相应的耐久性验证要求。
• JESD219：固态驱动器（SSD）耐久性工作负载。本标准定义了SSD应用程序类的耐久性评级和耐久性验证的工作负载。这些标准与JESD218一起使用。
• JEP150.01：组装固态表面贴装元件相关的压力测试驱动的鉴定和失效机制。
• JESD91A：开发电子元件失效机制加速模型的方法。本标准旨在为开发电子元件中缺陷相关和磨损机制的加速模型提供参考。

RDT测试条件和流程

下图显示了RDT测试条件和流程，以及相应的顺序和随机工作负载/传输流量。

• 顺序/传输流量：128K/256K/512K
• 随机/传输流量：4K/8K/16K/32

图 1. RDT 测试条件和流程

RDT（可靠性验证试验）结果

ATP在各种容量的SATA M.2 2280 SSD上执行RDT。所有SSD都完成了RDT，没有任何问题或数据错配。

采用Arrhenius方程计算半导体器件失效时间分布的热加速因子。

其中：

Ea: 活化能 = 0.6

K: 玻尔兹曼常数

T0: 使用温度

Ts: 应力温度

所有驱动器的累计通电时间超过 671,760 小时。 应用加速因子 (AF=2.84) 后，累积的 Tuse 小时数为 1,910,181 小时。 得到的 MTBF 在 55°C 下为 2,084,689 小时，置信度为 60%。

图 2. 示例 RDT 测试结果

关键要点

ATP 在较长时间内对其 SSD 执行完整的实际驱动器级别测试，以验证额定 MTBF 值，而不是依赖可靠性预测系统。ATP 根据 JEDEC 标准执行 RDT 以确定驱动器可靠性，并使用Arrhenius方程计算半导体器件故障时间分布的热加速因子。 所有 SSD ATP 都完成了 RDT，而没有出现问题或数据错配。

ATP 的可靠性验证试验是 ATP 开发和执行的可靠性和耐久性测试的一部分，以确保其产品严格遵守最高质量标准。 ATP 致力于提供高性能和高耐用性的 NAND 闪存产品，以确保总拥有成本 (TCO) 实现最佳。

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