ファームウェアベースの電断保護は、電源が失われる前にデバイスに書き込まれたデータを効果的に保護します。ライト操作が正常に完了したという信号をデバイスからホストが受信した後、突然の電源喪失が発生した場合でも、新しく書き込まれたデータと以前に書き込まれたデータは保護されます。

ハードウェアでの電源不良防止機能は、最後の読み・書き・消去コマンドを完了させ、不揮発性フラッシュメモリに格納 し、電源遮断によるデータ喪失を防ぎます。一部のNVMe モジュールとSATA SSDには新しいマイクロコントローラユニットが搭載されています。 MCUベースの設計によりPLPアレイが様々な温度、電力グリッチ、充電状態でインテリジェントに動作し、デバ イスとデータの両方を保護します。

ブロックに均一にリード・ライトをできるように管理し、フラッシュ製品の製品寿命を最適化します。

動作時のエラービット・レベルをモニターします。ブロック内のエラービットが予め設定された閾値に到達・超過する前に、オートリフレッシュにより、データをヘルシーなブロックに移動させます。これにより、コントローラーが 非常に多くのエラービットを読んでしまう状況、読み込み不能な状 態、データ破損の発生を回避させます。

リード・ライト・オペレーションに影響を与えることなく、バックグランドでユーザー領域の記録を順番にスキャンすることにより、使用頻度の低い領域でのリード障害の危険性を減らし、データの完全な保全を保証します。完全に別のブロックへ移動されたデータは、元のデータと同一かを確認するために、読み込まれた上で、元のデータと比較されます。

P/Eサイクル（消去回数）が増大すると、メモリセルが劣化し電圧シフトが発生します。これにより、リードしきい値が固定されている場合には、ビットエラーレート（BER）が上昇します。 オートリードキャリブレーション（ARC）機能は、リードしきい値を調整することによりBERを低減し信頼性を高めます。ARCは TLC LDPCコントローラーにてサポートされています。

データがホストからストレージデバイスコントロー ラーに、またはその逆に移動するときのエラー・チェック と修正を保証します。 データパス全体をカバーすることにより、エンド・ トゥー・エンド・データの保護によりデータ転送中の任意の時点で整合性が保証されます。