ネットワーク / テレコム
今日、プライマリ ストレージ、データ センターとクラウド コンピューティング、および WAN エッジ インフラストラクチャに関する Gartner の Magic Quadrant レポートに記載されている企業の 70% 以上が、ATP を戦略的サプライヤ
独自の課題に対するソリューション
Growing demand for higher computing network appliances at the edge, such as RU and DU for scaling virtualization deployment, is driven on by the Open Radio Network structure in the 5G era. Telco/ISPs are struggling to provide higher SPEC DRAM/NAND storage at the edge due to a lack of chassis space, fluctuating temperatures, and environmental erosions.
With its expertise in co-design and validation, ATP meets the demand for hardware and software design that must adhere to stringent service level commitments.
ユニークな挑戦
ソリューション
Nowadays, the heart of virtually all industries is networking and cybersecurity, encompassing a variety of network-related appliances. Together, ATP builds solutions that drive toward greater computing that upscales software defined solutions for providers across the board, including gateway, UTM, NGFW, managed switch, and all sorts of servers.
Today, over 70% of companies listed on Gartner’s Magic Quadrant report for Primary Storage, Data Center and Cloud Computing, and WAN-Edge Infrastructure consider ATP as a strategic supplier.
ユニークな挑戦
ソリューション
While experiencing exponential expansion, storage server and cloud service providers also confront difficulties with data integrity, reliability, and other factors that are crucial to perpetual up-time. Boot drives, server DRAM, and other uncommon embedded form factors are areas of expertise for ATP.
Today, ATP is regarded as a strategic supplier by more than 70% of the businesses included in Gartner's Magic Quadrant reports for Primary Storage, Data Center and Cloud Computing, and WAN-Edge Infrastructure.
ユニークな挑戦
ソリューション
From Whitebox uCPE makers to turnkey solution providers, the SD-WAN industry has struggled to strike a balance between ideal OPEX and practical CAPEX. An achievable OPEX within the service level agreement is ensured by a better endurance DRAM/NAND at a reasonable cost.
Today, leading SD-WAN solution providers consider ATP as a strategic supplier, we’d like to show you why
ユニークな挑戦
ソリューション
注目技術
エンド・トゥー・エンド・データ保護
データがホストからストレージデバイスコントロー ラーに、またはその逆に移動するときのエラー・チェック と修正を保証します。 データパス全体をカバーすることにより、エンド・ トゥー・エンド・データの保護によりデータ転送中の任意の時点で整合性が保証されます。
インダストリアル温度対応
－40℃から＋85℃までの高低温度環境での安定動作
ハードウェアベース電断保護回路
ハードウェアでの電源不良防止機能は、最後の読み・書き・消去コマンドを完了させ、不揮発性フラッシュメモリに格納 し、電源遮断によるデータ喪失を防ぎます。一部のNVMe モジュールとSATA SSDには新しいマイクロコントローラユニットが搭載されています。 MCUベースの設計によりPLPアレイが様々な温度、電力グリッチ、充電状態でインテリジェントに動作し、デバ イスとデータの両方を保護します。
ファームウェアベースの電断保護
ファームウェアベースの電断保護は、電源が失われる前にデバイスに書き込まれたデータを効果的に保護します。ライト操作が正常に完了したという信号をデバイスからホストが受信した後、突然の電源喪失が発生した場合でも、新しく書き込まれたデータと以前に書き込まれたデータは保護されます。
温度拡張DRAMモジュール
これらのモジュールは、ATP独自の技術/テストによって、-40℃～85℃の産業機器用温度動作範囲のサポートを可能にしており、産業用グレードICを備えたモジュールよりも低価格を実現しています。
バーンイン・テスト(TDBI)
TDBIは、DRAMモジュールを様々な温度、パワーサイクル、電圧、その他のストレス条件下で一定期間経過させるテストです。その目的は、弱いICをスクリーニングすることであり、信頼性の高いICのみモジュールに使われていることを確認します。
耐硫化対策レジスタ
ATPのDRAMモジュールとNANDフラッシュ・ストレージ製品 は、硫黄等の腐食ガス環境下でも長期的に安定動作を実現するための耐硫化対策レジスタの実装オプションを準備しております。
TCG Opal
Plus other features defined for data storage devices by the Trusted Computing Group.
推奨製品
仕様
製品を見る| Industrial Enterprise PCIe® Gen4 NVMe SSDs | |||
|---|---|---|---|
| Naming | N651Sie | N651Sie | N651Sie |
| Interface | PCIe G4 x4 | PCIe G4 x4 | PCIe G4 x4 |
| Form Factor | M.2 | U.2 | E1.S |
| Dimensions (mm) | 80 x 22 x 3.85 | 100 x 69.85 x 15 | 118.75 x 33.75 x 9.5 |
| Flash Type | TLC | TLC | TLC |
| Capacity | 120 GB to 1.92 TB | 480 GB to 7.68 TB | 480 GB to 7.68 TB |
| Sequential Read (MB/s) up to 1,6,7 | 6,450 | 6,000 | 6,100 |
| Sequential Write (MB/s) up to 1,6,7 | 6,050 | 5,500 | 6,000 |
| Random Read KIOPS up to 2,6,7 | 1,100 | 820 | 870 |
| Random Write KIOPS up to 2,6,7 | 1,250 | 1,200 | 1,200 |
| Sustained Sequential Write (MB/s) up to 3,6,7 | 3,000 | 3,200 | 3,200 |
| Sustained Random Write up to 4,6,7 | 250 KIOPS (1,000 MB/s) | 320 KIOPS (1,280 MB/s) | 320 KIOPS (1,280 MB/s) |
| Endurance [DWPD] 8 | Available in 1, 2, and 5 DWPD configurations | Available in 1, 2, and 5 DWPD configurations | Available in 1, 2, and 5 DWPD configurations |
| QoS 99.9999% 5,6,7 | Read <90µs | Write <10µs | Read <80µs | Write <10µs | Read <80µs | Write <10µs |
| Data Retention | 1 year at 55°C (100% P/E cycles) | 1 year at 55°C (100% P/E cycles) | 1 year at 55°C (100% P/E cycles) |
| Power Loss Protection | Yes | Yes | Yes |
| End to End Data Path Protection | Yes | Yes | Yes |
| Sustained Read Power (Max) 7 | <9W | <14.5W | <13W |
| Sustained Write Power (Max) 7 | <11.5W | <17.5W | <15.5W |
| Supply Voltage | 3.3V | 12V | 12V |
| Operating Temperature Tc | -40°C to 85°C (I-Temp) | -40°C to 85°C (I-Temp) | -40°C to 85°C (I-Temp) |
| Storage Temperature Tc | -40°C to 85°C | -40°C to 85°C | -40°C to 85°C |
| Vibration | Sine 16.4G,10~2,000Hz | Sine 16.4G,10~2,000Hz | Sine 16.4G,10~2,000Hz |
| Shock | Half sine 1,500G/0.5ms | Half sine 1,500G/0.5ms | Half sine 1,500G/0.5ms |
| Reliability MTBF @ 25°C | >3,000,000 hours | >3,000,000 hours | >3,000,000 hours |
| UBER | <1 sector per 10^17 bits read | <1 sector per 10^17 bits read | <1 sector per 10^17 bits read |
| Warranty | 5 years | 5 years | 5 years |
1. シーケンシャルバーストパフォーマンスは、IOmeter 4MB QD64でテスト
2. ランダムバーストパフォーマンスは、IOmeter 4KB QD64でテスト
3. 平均持続シーケンシャル書き込みパフォーマンスは、IOmeter (4MB QD64) で4時間テスト
4. 平均持続ランダム書き込みパフォーマンスは、IOmeter (4KB QD64) で4時間テスト
5. 4KB ランダム QD=1
6. 実際のパフォーマンスは、ユーザーの状況やシステム環境によって異なる場合があります
7. 各結果は、最大容量のドライブでテスト
8. 5年間でのDWPDは、JESD219A エンタープライズワークロードでテスト
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